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- [IEEE Std P1785.3/D33, Sept. 2015](/ar/works/ieee-std-p1785-3-d33-sept-2015.html)：IEEE Std P1785.3/D33, Sept. 2015 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Recommended Practice for Rectangular Metallic Waveguides and Their Interfaces for Frequencies of 110 GHz and Above. Part 3: Recommendations for Performanc”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2016 年。
- [IEEE Std P1785.2/D2a, Jul 2015](/ar/works/ieee-std-p1785-2-d2a-jul-2015.html)：IEEE Std P1785.2/D2a, Jul 2015 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Standard for Rectangular Metallic Waveguides and Their Interfaces for Frequencies of 110 GHz and Above-- Part 2: Waveguide Interfaces”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2016 年。
- [IEEE Std P1785.3/D31, Jun 2014](/ar/works/ieee-std-p1785-3-d31-jun-2014.html)：IEEE Std P1785.3/D31, Jun 2014 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Recommended Practice for Rectangular Metallic Waveguides and Their Interfaces for Frequencies of 110 GHz and Above. Part 3: Recommendations for Performance and Uncer”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2014 年。
- [IEEE Std P1785.1/D3, July 2012](/ar/works/ieee-std-p1785-1-d3-july-2012.html)：IEEE Std P1785.1/D3, July 2012 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Standard for Rectangular Metallic Waveguides and Their Interfaces for Frequencies of 110 GHz and Above. Part 1: Frequency Bands and Waveguide Dimensions”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2012 年。
- [IEEE Std P1785.1/D2, Oct 2025](/ar/works/ieee-std-p1785-1-d2-oct-2025.html)：IEEE Std P1785.1/D2, Oct 2025 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Standard for Rectangular Metallic Waveguides and Their Interfaces for Frequencies of 110 GHz and Above--Part 1: Frequency Bands and Waveguide Dimensions”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2026 年。
- [IEEE Std P1785.1/D1, Aug 2025](/ar/works/ieee-std-p1785-1-d1-aug-2025.html)：IEEE Std P1785.1/D1, Aug 2025 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Standard for Rectangular Metallic Waveguides and Their Interfaces for Frequencies of 110 GHz and Above--Part 1: Frequency Bands and Waveguide Dimensions”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2025 年。
- [IEEE Std P1783/D2.1 Dec 2008](/ar/works/ieee-std-p1783-d2-1-dec-2008.html)：IEEE Std P1783/D2.1 Dec 2008 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Guide for Test Methods and Procedures to Evaluate the Electrical Performance of Insulators in Freezing Conditions”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2008 年。
- [IEEE Std P1783/D3, Apr 2009](/ar/works/ieee-std-p1783-d3-apr-2009.html)：IEEE Std P1783/D3, Apr 2009 是电气电子工程师学会的草案，题为“Draft Guide for Test Methods and Procedures to Evaluate the Electrical Performance of Insulators in Freezing Conditions”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2009 年。
- [IEEE Std P1782/D5, July 2013](/ar/works/ieee-std-p1782-d5-july-2013.html)：IEEE Std P1782/D5, July 2013 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Guide for Collecting, Categorizing and Utilization of Information Related to Electric Power Distribution Interruption Events”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2013 年。
- [IEEE Std P1782/D4, Nov 2012](/ar/works/ieee-std-p1782-d4-nov-2012.html)：IEEE Std P1782/D4, Nov 2012 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Guide for Collecting, Categorizing and Utilization of Information Related to Electric Power Distribution Interruption Events”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2012 年。
- [IEEE Std P1782/D1, Jan 2022](/ar/works/ieee-std-p1782-d1-jan-2022.html)：IEEE Std P1782/D1, Jan 2022 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Guide for Collecting, Categorizing, and Utilizing Information Related to Electric Power Distribution Interruption Events”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2022 年。
- [IEEE Std P1780/D30, Oct 2021](/ar/works/ieee-std-p1780-d30-oct-2021.html)：IEEE Std P1780/D30, Oct 2021 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Aproved Draft Standard for the Specification of Inertial Measurement Units (IMU)”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2021 年。
- [IEEE Std P1782/D002, Mar 2022](/ar/works/ieee-std-p1782-d002-mar-2022.html)：IEEE Std P1782/D002, Mar 2022 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Guide for Collecting, Categorizing, and Utilizing Information Related to Electric Power Distribution Interruption Events”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2022 年。
- [IEEE Std 1667-2018](/ar/works/ieee-std-1667-2018-8575226-redline.html)：IEEE Std 1667-2018 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Discovery, Authentication, and Authorization in Host Attachments of Storage Devices - Redline”；公开目录标为现行（Active），红线对照（Redline），著录年份为 2018 年。
- [IEEE Std 1668-2014](/ar/works/ieee-std-1668-2014.html)：IEEE Std 1668-2014 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Trial-Use Recommended Practice for Voltage Sag and Short Interruption Ride-Through Testing for End-Use Electrical Equipment Rated Less than 1000 V”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2014 年。
- [IEEE Std 1668-2017](/ar/works/ieee-std-1668-2017-8365161-redline.html)：IEEE Std 1668-2017 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Recommended Practice for Voltage Sag and Short Interruption Ride-Through Testing for End-Use Electrical Equipment Rated Less than 1000 V - Redline”；公开目录标为现行（Active），红线对照（Redline），著录年份为 2017 年。
- [IEEE Std 1671.1-2009](/ar/works/ieee-std-1671-1-2009-5353115.html)：IEEE Std 1671.1-2009 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2009 年。
- [IEEE Std 1671.1-2009](/ar/works/ieee-std-1671-1-2009-6781519.html)：IEEE Std 1671.1-2009 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2009 年。
- [IEEE Std 1671-2006](/ar/works/ieee-std-1671-2006-4035723.html)：IEEE Std 1671-2006 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information Via XML”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2006 年。
- [IEEE Std 1671-2006](/ar/works/ieee-std-1671-2006-5250285.html)：IEEE Std 1671-2006 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2009 年。
- [IEEE Std 1671-2010](/ar/works/ieee-std-1671-2010.html)：IEEE Std 1671-2010 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2011 年。
- [IEEE Std 1671.2-2008](/ar/works/ieee-std-1671-2-2008.html)：IEEE Std 1671.2-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Instrument Descriptions”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2008 年。
- [IEEE Std 1671.2-2012](/ar/works/ieee-std-1671-2-2012-6461895.html)：IEEE Std 1671.2-2012 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2013 年。
- [IEEE Std 1671.2-2012](/ar/works/ieee-std-1671-2-2012-6522436-redline.html)：IEEE Std 1671.2-2012 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description - Redline”；公开目录标为非现行（Inactive），红线对照（Redline），著录年份为 2013 年。
- [IEEE Std 1671.2/D15, Sep 2012](/ar/works/ieee-std-1671-2-d15-sep-2012.html)：IEEE Std 1671.2/D15, Sep 2012 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2012 年。
- [IEEE Std 1671.3-2007](/ar/works/ieee-std-1671-3-2007.html)：IEEE Std 1671.3-2007 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML (eXtensible Markup Language): Exchanging UUT (Unit Under Test) Description Infor”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2008 年。
- [IEEE Std 1671.4-2007](/ar/works/ieee-std-1671-4-2007.html)：IEEE Std 1671.4-2007 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via eXtensible Markup Language (XML): Exchanging Test Configuration Information”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2008 年。
- [IEEE Std 1671.4-2014](/ar/works/ieee-std-1671-4-2014.html)：IEEE Std 1671.4-2014 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Configuration”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2014 年。
- [IEEE Std 1671.5-2008](/ar/works/ieee-std-1671-5-2008-4733021.html)：IEEE Std 1671.5-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML:Exchanging Test Adapter Information”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2012 年。
- [IEEE Std 1671.5-2008](/ar/works/ieee-std-1671-5-2008-6781501.html)：IEEE Std 1671.5-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML:Exchanging Test Adapter Information”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2012 年。
- [IEEE Std 1671.5-2015](/ar/works/ieee-std-1671-5-2015-7102656.html)：IEEE Std 1671.5-2015 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2015 年。
- [IEEE Std 1671.5-2015](/ar/works/ieee-std-1671-5-2015-7166296-redline.html)：IEEE Std 1671.5-2015 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description - Redline”；公开目录标为非现行（Inactive），红线对照（Redline），著录年份为 2015 年。
- [IEEE Std 167-1966](/ar/works/ieee-std-167-1966.html)：IEEE Std 167-1966 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Test Procedure for Facsimile”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1966 年。
- [IEEE Std P1780/D29, Oct 2020](/ar/works/ieee-std-p1780-d29-oct-2020.html)：IEEE Std P1780/D29, Oct 2020 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Standard for the Specification of Inertial Measurement Units (IMU)”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2021 年。
- [IEEE Std P1776\_D08, Dec 2007](/ar/works/ieee-std-p1776-d08-dec-2007.html)：IEEE Std P1776\_D08, Dec 2007 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Recommended Practice for Thermal Evaluation of Unsealed Or Sealed Insulation Systems for Ac Electric Machinery Employing Form-Wound Pre-Insulated Stator Coils for Mach”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2007 年。
- [IEEE Std P1776/D12, Jun 2008](/ar/works/ieee-std-p1776-d12-jun-2008.html)：IEEE Std P1776/D12, Jun 2008 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Recommended Practice for Thermal Evaluation of Unsealed Or Sealed Insulation Systems for Ac Electric Machinery Employing Form-Wound Pre-Insulated Stator Coils for Mach”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2008 年。
- [IEEE Std P1776/D9b, Feb. 2008](/ar/works/ieee-std-p1776-d9b-feb-2008.html)：IEEE Std P1776/D9b, Feb. 2008 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Recommended Practice for Thermal Evaluation of Unsealed Or Sealed Insulation Systems for AC Electric Machinery Employing Form-Wound Pre-Insulated Stator Coils for Mac”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2008 年。
- [IEEE Std P1775/D1.9.8, Dec 2009](/ar/works/ieee-std-p1775-d1-9-8-dec-2009.html)：IEEE Std P1775/D1.9.8, Dec 2009 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Standard for Powerline Communication Equipment -- Electromagnetic Compatibility (EMC) Requirements -- Testing and Measurements Methods”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2009 年。
- [IEEE Std P1775/1.9.7, Mar 2009](/ar/works/ieee-std-p1775-1-9-7-mar-2009.html)：IEEE Std P1775/1.9.7, Mar 2009 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Standard for Powerline Communication Equipment - Electromagnetic Compatibility (EMC) Requirements - Testing and Measurements Methods”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2009 年。
- [IEEE Std 1667-2006](/ar/works/ieee-std-1667-2006.html)：IEEE Std 1667-2006 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Protocol for Authentication in Host Attachments of Transient Storage Devices”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2007 年。
- [IEEE Std 1667-2009](/ar/works/ieee-std-1667-2009-5438721.html)：IEEE Std 1667-2009 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Authentication in Host Attachments of Transient Storage Devices”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2010 年。
- [IEEE Std 1667-2009](/ar/works/ieee-std-1667-2009-5953415-redline.html)：IEEE Std 1667-2009 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Authentication in Host Attachments of Transient Storage Devices - Redline”；公开目录标为已被替代（Superseded），红线对照（Redline），著录年份为 2010 年。
- [IEEE Std 1667-2015](/ar/works/ieee-std-1667-2015-7389947.html)：IEEE Std 1667-2015 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Discovery, Authentication, and Authorization in Host Attachments of Storage Devices”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2016 年。
- [IEEE Std 1667-2015](/ar/works/ieee-std-1667-2015-7544434-redline.html)：IEEE Std 1667-2015 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Discovery, Authentication, and Authorization in Host Attachments of Storage Devices - Redline”；公开目录标为已被替代（Superseded），红线对照（Redline），著录年份为 2016 年。
- [IEEE Std 1657-2009](/ar/works/ieee-std-1657-2009.html)：IEEE Std 1657-2009 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Recommended Practice for Personnel Qualifications for Installation and Maintenance of Stationary Batteries”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2009 年。
- [IEEE Std 1657-2018](/ar/works/ieee-std-1657-2018-8697214-redline.html)：IEEE Std 1657-2018 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Recommended Practice for Personnel Qualifications for Installation and Maintenance of Stationary Batteries - Redline”；公开目录标为现行（Active），红线对照（Redline），著录年份为 2018 年。
- [IEEE Std 1657a-2015](/ar/works/ieee-std-1657a-2015.html)：IEEE Std 1657a-2015 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Recommended Practice for Personnel Qualifications for Installation and Maintenance of Stationary Batteries - Amendment 1: Updated Safety Sections”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2015 年。
- [IEEE Std 1658-2011](/ar/works/ieee-std-1658-2011.html)：IEEE Std 1658-2011 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Terminology and Test Methods of Digital-to-Analog Converter Devices”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2012 年。
- [IEEE Std 1660-2008](/ar/works/ieee-std-1660-2008.html)：IEEE Std 1660-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Guide for Application and Management of Stationary Batteries Used in Cycling Service”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2008 年。
- [IEEE Std 1661-2007](/ar/works/ieee-std-1661-2007.html)：IEEE Std 1661-2007 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Guide for Test and Evaluation of Lead-Acid Batteries Used in Photovoltaic (PV) Hybrid Power Systems”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2008 年。

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