IEEE Std 1620-2008

IEEE Std 1620-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials - Redline”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2008 年。

Aktualisiert 2026-11-11 · rev 2 · Andere Namen：1620-2008 1620-2008 - IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials - Redline

IEEE Std 1620-2008（IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials - Redline）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2008 年，主题领域包括 Computing and Processing、Components, Circuits, Devices and Systems^[1]。参见IEEE 标准。

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Published by 电气电子工程师学会^[1]
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Quellen

IEEE Std 1620-2008 — IEEE Xplore 题录 · IEEE
standard_number=1620-2008; status=Inactive; modifier=Reserved
↩ ↩ ↩
IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01