IEEE Std 660-1986 · Beziehungen
URL: https://knowledge.ivjn.us/de/works/ieee-std-660-1986/relation.html

IEEE Std 660-1986 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1986 年。

Published by
- 电气电子工程师学会 https://knowledge.ivjn.us/de/organizations/ieee.html

About
- IEEE 标准 https://knowledge.ivjn.us/de/concepts/ieee-standards.html


Page 1 / 1, 2 total