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- IEEE Std P1788.1/D9.9, Jun 2017: IEEE Std P1788.1/D9.9, Jun 2017 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Standard for Interval Arithmetic (Simplified)”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2017 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1788-1-d9-9-jun-2017.html
- IEEE Std 1671.6-2008: IEEE Std 1671.6-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML: Exchanging Test Station Information”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2013 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-6-2008-4723925.html
- IEEE Std 1671.6-2008: IEEE Std 1671.6-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML: Exchanging Test Station Information”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2013 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-6-2008-6809828.html
- IEEE Std 1671.6-2015: IEEE Std 1671.6-2015 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2015 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-6-2015-7102653.html
- IEEE Std 1671.6-2015: IEEE Std 1671.6-2015 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description - Redline”；公开目录标为非现行（Inactive），红线对照（Redline），著录年份为 2015 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-6-2015-7118619-redline.html
- IEEE Std 1672-2006: IEEE Std 1672-2006 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Ultrawideband Radar Definitions”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2007 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1672-2006.html
- IEEE Std 1672-2006/Cor 1-2008: IEEE Std 1672-2006/Cor 1-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Ultrawideband Radar Definitions - Corrigendum 1”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2008 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1672-2006-cor-1-2008.html
- IEEE Std 1673-2015: IEEE Std 1673-2015 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Requirements for Conduit and Cable Seals for Field Connected Wiring to Equipment in Petroleum and Chemical Industry Exposed to Pressures above Atmospheric (1.5 kPa, 0.22”；公开目录标为非现行（Inactive），已批准（Approved），著录年份为 2016 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1673-2015-7426673.html
- IEEE Std 1675-2008: IEEE Std 1675-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Broadband Over Powerline Hardware”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2009 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1675-2008.html
- IEEE Std 1676-2010: IEEE Std 1676-2010 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Guide for Control Architecture for High Power Electronics (1 MW and Greater) Used in Electric Power Transmission and Distribution Systems”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2011 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1676-2010.html
- IEEE Std 1679-2010: IEEE Std 1679-2010 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Recommended Practice for the Characterization and Evaluation of Emerging Energy Storage Technologies in Stationary Applications”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2010 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1679-2010.html
- IEEE Std 167A-1975: IEEE Std 167A-1975 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Facsimile Test Chart”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 1974 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-167a-1975.html
- IEEE Std 167A-1980: IEEE Std 167A-1980 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Facsimile Test Chart”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 1979 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-167a-1980.html
- IEEE Std 167A-1987: IEEE Std 167A-1987 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Facsimile Test Charts (Revised as 167A.1)”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 1987 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-167a-1987.html
- IEEE Std P1786/D2, Nov 2025: IEEE Std P1786/D2, Nov 2025 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Recommended Practice for Human Factors Applications of Computerized Operating Procedure Systems (COPS) at Nuclear Power Generating Stations and Other Nuclear F”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2026 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1786-d2-nov-2025.html
- IEEE Std P1786/D2, Nov 2021: IEEE Std P1786/D2, Nov 2021 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Guide for Human Factors Applications of Computerized Operating Procedure Systems (COPS) at Nuclear Power Generating Stations and Other Nuclear Facilities”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2021 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1786-d2-nov-2021.html
- IEEE Std P1786/D11, Apr 2011: IEEE Std P1786/D11, Apr 2011 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Guide for Human Factors Applications of Computerized Operating Procedure Systems (COPS) at Nuclear Power Generating Stations and Other Nuclear Facilities”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2011 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1786-d11-apr-2011.html
- IEEE Std P1786: IEEE Std P1786 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Human Factors Guide for Applications of Computerized Operating Procedure Systems at Nuclear Power Generating Stations and Other Nuclear Facilities.”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2010 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1786.html
- IEEE Std P1786/D1, Sept 2025: IEEE Std P1786/D1, Sept 2025 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Recommended Practice for Human Factors Applications of Computerized Operating Procedure Systems (COPS) at Nuclear Power Generating Stations and Other Nuclear Facilitie”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2025 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1786-d1-sept-2025.html
- IEEE Std P1785.3/D33, Sept. 2015: IEEE Std P1785.3/D33, Sept. 2015 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Recommended Practice for Rectangular Metallic Waveguides and Their Interfaces for Frequencies of 110 GHz and Above. Part 3: Recommendations for Performanc”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2016 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1785-3-d33-sept-2015.html
- IEEE Std P1785.2/D2a, Jul 2015: IEEE Std P1785.2/D2a, Jul 2015 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Standard for Rectangular Metallic Waveguides and Their Interfaces for Frequencies of 110 GHz and Above-- Part 2: Waveguide Interfaces”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2016 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1785-2-d2a-jul-2015.html
- IEEE Std P1785.3/D31, Jun 2014: IEEE Std P1785.3/D31, Jun 2014 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Recommended Practice for Rectangular Metallic Waveguides and Their Interfaces for Frequencies of 110 GHz and Above. Part 3: Recommendations for Performance and Uncer”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2014 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1785-3-d31-jun-2014.html
- IEEE Std P1785.1/D3, July 2012: IEEE Std P1785.1/D3, July 2012 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Standard for Rectangular Metallic Waveguides and Their Interfaces for Frequencies of 110 GHz and Above. Part 1: Frequency Bands and Waveguide Dimensions”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2012 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1785-1-d3-july-2012.html
- IEEE Std P1785.1/D2, Oct 2025: IEEE Std P1785.1/D2, Oct 2025 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Standard for Rectangular Metallic Waveguides and Their Interfaces for Frequencies of 110 GHz and Above--Part 1: Frequency Bands and Waveguide Dimensions”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2026 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1785-1-d2-oct-2025.html
- IEEE Std P1785.1/D1, Aug 2025: IEEE Std P1785.1/D1, Aug 2025 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Standard for Rectangular Metallic Waveguides and Their Interfaces for Frequencies of 110 GHz and Above--Part 1: Frequency Bands and Waveguide Dimensions”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2025 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1785-1-d1-aug-2025.html
- IEEE Std P1783/D2.1 Dec 2008: IEEE Std P1783/D2.1 Dec 2008 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Guide for Test Methods and Procedures to Evaluate the Electrical Performance of Insulators in Freezing Conditions”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2008 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1783-d2-1-dec-2008.html
- IEEE Std P1783/D3, Apr 2009: IEEE Std P1783/D3, Apr 2009 是电气电子工程师学会的草案，题为“Draft Guide for Test Methods and Procedures to Evaluate the Electrical Performance of Insulators in Freezing Conditions”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2009 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1783-d3-apr-2009.html
- IEEE Std P1782/D5, July 2013: IEEE Std P1782/D5, July 2013 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Guide for Collecting, Categorizing and Utilization of Information Related to Electric Power Distribution Interruption Events”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2013 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1782-d5-july-2013.html
- IEEE Std P1782/D4, Nov 2012: IEEE Std P1782/D4, Nov 2012 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Guide for Collecting, Categorizing and Utilization of Information Related to Electric Power Distribution Interruption Events”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2012 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1782-d4-nov-2012.html
- IEEE Std P1782/D1, Jan 2022: IEEE Std P1782/D1, Jan 2022 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Guide for Collecting, Categorizing, and Utilizing Information Related to Electric Power Distribution Interruption Events”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2022 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1782-d1-jan-2022.html
- IEEE Std P1780/D30, Oct 2021: IEEE Std P1780/D30, Oct 2021 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Aproved Draft Standard for the Specification of Inertial Measurement Units (IMU)”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2021 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1780-d30-oct-2021.html
- IEEE Std P1782/D002, Mar 2022: IEEE Std P1782/D002, Mar 2022 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Guide for Collecting, Categorizing, and Utilizing Information Related to Electric Power Distribution Interruption Events”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2022 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-p1782-d002-mar-2022.html
- IEEE Std 1667-2018: IEEE Std 1667-2018 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Discovery, Authentication, and Authorization in Host Attachments of Storage Devices - Redline”；公开目录标为现行（Active），红线对照（Redline），著录年份为 2018 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1667-2018-8575226-redline.html
- IEEE Std 1668-2014: IEEE Std 1668-2014 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Trial-Use Recommended Practice for Voltage Sag and Short Interruption Ride-Through Testing for End-Use Electrical Equipment Rated Less than 1000 V”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2014 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1668-2014.html
- IEEE Std 1668-2017: IEEE Std 1668-2017 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Recommended Practice for Voltage Sag and Short Interruption Ride-Through Testing for End-Use Electrical Equipment Rated Less than 1000 V - Redline”；公开目录标为现行（Active），红线对照（Redline），著录年份为 2017 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1668-2017-8365161-redline.html
- IEEE Std 1671.1-2009: IEEE Std 1671.1-2009 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2009 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-1-2009-5353115.html
- IEEE Std 1671.1-2009: IEEE Std 1671.1-2009 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Test Descriptions”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2009 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-1-2009-6781519.html
- IEEE Std 1671-2006: IEEE Std 1671-2006 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information Via XML”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2006 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-2006-4035723.html
- IEEE Std 1671-2006: IEEE Std 1671-2006 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2009 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-2006-5250285.html
- IEEE Std 1671-2010: IEEE Std 1671-2010 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2011 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-2010.html
- IEEE Std 1671.2-2008: IEEE Std 1671.2-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML: Exchanging Instrument Descriptions”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2008 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-2-2008.html
- IEEE Std 1671.2-2012: IEEE Std 1671.2-2012 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2013 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-2-2012-6461895.html
- IEEE Std 1671.2-2012: IEEE Std 1671.2-2012 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description - Redline”；公开目录标为非现行（Inactive），红线对照（Redline），著录年份为 2013 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-2-2012-6522436-redline.html
- IEEE Std 1671.2/D15, Sep 2012: IEEE Std 1671.2/D15, Sep 2012 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Instrument Description”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2012 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-2-d15-sep-2012.html
- IEEE Std 1671.3-2007: IEEE Std 1671.3-2007 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML (eXtensible Markup Language): Exchanging UUT (Unit Under Test) Description Infor”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2008 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-3-2007.html
- IEEE Std 1671.4-2007: IEEE Std 1671.4-2007 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via eXtensible Markup Language (XML): Exchanging Test Configuration Information”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2008 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-4-2007.html
- IEEE Std 1671.4-2014: IEEE Std 1671.4-2014 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Configuration”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2014 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-4-2014.html
- IEEE Std 1671.5-2008: IEEE Std 1671.5-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML:Exchanging Test Adapter Information”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2012 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-5-2008-4733021.html
- IEEE Std 1671.5-2008: IEEE Std 1671.5-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Information via XML:Exchanging Test Adapter Information”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2012 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-5-2008-6781501.html
- IEEE Std 1671.5-2015: IEEE Std 1671.5-2015 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2015 年。 https://knowledge.ivjn.us/ko/works/ieee-std-1671-5-2015-7102656.html

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