Karya
IEEE Std 1687-2014
IEEE Std 1687-2014 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2014 年。
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Karya
IEEE Std 1687-2014
IEEE Std 1687-2014 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2014 年。