IEEE Std 1505.1-2008（IEEE Trial-Use Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2008 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。
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IEEE Std 1505.1-2008
IEEE Std 1505.1-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Trial-Use Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505”；公开目录标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2008 年。
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แหล่งที่มา
- IEEE Std 1505.1-2008 — IEEE Xplore 题录 · IEEE
standard_number=1505.1-2008; status=Active; modifier=Approved
↩ ↩ - IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01 ↩