الترجمة غير متاحة؛ يُعرض النص الصيني الأصلي.

أعمال · work_ieee_660_1986

IEEE Std 660-1986 · العلاقات

IEEE Std 660-1986 是电气电子工程师学会的技术标准,题为“IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language”;公开目录标为非现行(Inactive),已撤回(Withdrawn),著录年份为 1986 年。

Published by

About

العلاقات

2 مدخلات

Mentioned in