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Werke · work_ieee_1149_10_2017

IEEE Std 1149.10-2017 · Beziehungen

IEEE Std 1149.10-2017 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for High-Speed Test Access Port and On-Chip Distribution Architecture”；公开目录标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2017 年。