IEEE Std 1687-2014（IEEE Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2014 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems、Computing and Processing[1]。参见IEEE 标准。
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IEEE Std 1687-2014
IEEE Std 1687-2014 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2014 年。
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Quellen
- IEEE Std 1687-2014 — IEEE Xplore 题录 · IEEE
standard_number=1687-2014; status=Inactive; modifier=Reserved
↩ ↩ ↩ - IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01