Keine Übersetzung verfügbar; der Originaltext wird angezeigt. Originaltext: 简体中文

Werke · work_ieee_p2030_8_d10_dec_2017

IEEE Std P2030.8/D10, Dec 2017

IEEE Std P2030.8/D10, Dec 2017 是电气电子工程师学会的草案,题为“IEEE Draft Standard for the Testing of Microgrid Controllers”;公开目录标为非现行(Inactive),著录年份为 2017 年。

Aktualisiert · rev 1 · Andere Namen:P2030.8/D10, Dec 2017 P2030.8/D10, Dec 2017 - IEEE Draft Standard for the Testing of Microgrid Controllers

IEEE Std P2030.8/D10, Dec 2017(IEEE Draft Standard for the Testing of Microgrid Controllers)是电气电子工程师学会于 2017 年 12 月形成的草案。公开目录将其标为非现行(Inactive),主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems、Power, Energy and Industry Applications[1]。参见IEEE 标准。

Verknüpfungen erkunden

Beziehungsseite →

Mentioned in

  • No body mentions yet.

Quellen

  1. IEEE Std P2030.8/D10, Dec 2017 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=P2030.8/D10, Dec 2017; status=Inactive; modifier=Draft

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards(KBART) · IEEE · 2026-11-01