Keine Übersetzung verfügbar; der Originaltext wird angezeigt. Originaltext: 简体中文

Werke · work_ieee_st_2016_2_2014

IEEE Std ST 2016-2:2014 · Chronik

IEEE Std ST 2016-2:2014 是电气电子工程师学会的技术标准,题为“SMPTE Standard - Format for Pan-Scan Information”;公开目录标为现行(Active),著录年份为 2014 年。

Chronik