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Obras · work_ieee_256_1963

IEEE Std 256-1963

IEEE Std 256-1963 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1963 年。

Actualizado · rev 1 · Alias：256-1963 256-1963 - IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes

IEEE Std 256-1963（IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1963 年，主题领域包括 Power, Energy and Industry Applications、Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。

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Fuentes

  1. IEEE Std 256-1963 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=256-1963; status=Inactive; modifier=Withdrawn

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01