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Œuvres · work_ieee_1620_2004

IEEE Std 1620-2004

IEEE Std 1620-2004 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2004 年。

Mis à jour · rev 1 · Alias：1620-2004 1620-2004 - Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials

IEEE Std 1620-2004（Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为已被替代（Superseded），著录年份为 2004 年，主题领域包括 Computing and Processing、Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。

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Sources

  1. IEEE Std 1620-2004 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=1620-2004; status=Superseded; modifier=

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01