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Œuvres · work_ieee_660_1986

IEEE Std 660-1986

IEEE Std 660-1986 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1986 年。

Mis à jour · rev 1 · Alias：660-1986 660-1986 - IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language

IEEE Std 660-1986（IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1986 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems、Computing and Processing[1]。参见IEEE 标准。

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Sources

  1. IEEE Std 660-1986 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=660-1986; status=Inactive; modifier=Withdrawn

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01