अनुवाद उपलब्ध नहीं है; मूल पाठ दिखाया जा रहा है। मूल पाठ: 简体中文

कृतियाँ · work_ieee_n42_31_2003

IEEE Std N42.31-2003 · संस्करण

IEEE Std N42.31-2003 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“American National Standard for Measurement Procedures for Resolution and Efficiency of Wide-Bandgap Semiconductor Detectors of Ionizing Radiation”；公开目录标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2003 年。