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कृतियाँ · work_ieee_st_2016_4_2014

IEEE Std ST 2016-4:2014 · संस्करण

IEEE Std ST 2016-4:2014 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“SMPTE Standard - Vertical Ancillary Data Mapping of Pan-Scan Information”；公开目录标为现行（Active），著录年份为 2014 年。