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Karya · work_ieee_775_1993

IEEE Std 775-1993

IEEE Std 775-1993 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Guide for Designing Multistress Aging Tests of Electrical Insulation in a Radiation Environment”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1993 年。

Diperbarui · rev 1 · Nama lain：775-1993 775-1993 - IEEE Guide for Designing Multistress Aging Tests of Electrical Insulation in a Radiation Environment

IEEE Std 775-1993（IEEE Guide for Designing Multistress Aging Tests of Electrical Insulation in a Radiation Environment）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1993 年，主题领域包括 Power, Energy and Industry Applications、Engineered Materials, Dielectrics and Plasmas[1]。参见IEEE 标准。

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Sumber

  1. IEEE Std 775-1993 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=775-1993; status=Inactive; modifier=Withdrawn

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01