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Opere · work_ieee_1500_2005

IEEE Std 1500-2005

IEEE Std 1500-2005 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2005 年。

Aggiornato · rev 1 · Altri nomi：1500-2005 1500-2005 - IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits

IEEE Std 1500-2005（IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2005 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。

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Fonti

  1. IEEE Std 1500-2005 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=1500-2005; status=Inactive; modifier=Reserved

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01