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Opere · work_ieee_1620_2008_4695965

IEEE Std 1620-2008

IEEE Std 1620-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2008 年。

Aggiornato · rev 1 · Altri nomi：1620-2008 1620-2008 - IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials

IEEE Std 1620-2008（IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2008 年，主题领域包括 Computing and Processing[1]。参见IEEE 标准。

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Fonti

  1. IEEE Std 1620-2008 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=1620-2008; status=Inactive; modifier=Reserved

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01