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Opere · work_ieee_300_1988

IEEE Std 300-1988

IEEE Std 300-1988 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 1988 年。

Aggiornato · rev 1 · Altri nomi：300-1988 300-1988 - IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors

IEEE Std 300-1988（IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 1988 年，主题领域包括 Nuclear Engineering[1]。参见IEEE 标准。

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Fonti

  1. IEEE Std 300-1988 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=300-1988; status=Inactive; modifier=Reserved

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01