IEEE Std P3157/D1, Jul 2026（IEEE Draft Recommended Practice for Vulnerability Test for Machine Learning Models for Computer Vision Applications）是电气电子工程师学会于 2026 年 7 月形成的草案。公开目录将其标为非现行（Inactive），主题领域包括 Computing and Processing[1]。参见IEEE 标准。
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IEEE Std P3157/D1, Jul 2026
IEEE Std P3157/D1, Jul 2026 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Draft Recommended Practice for Vulnerability Test for Machine Learning Models for Computer Vision Applications”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2026 年。
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Fonti
- IEEE Std P3157/D1, Jul 2026 — IEEE Xplore 题录 · IEEE
standard_number=P3157/D1, Jul 2026; status=Inactive; modifier=Draft
↩ ↩ ↩ - IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01