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作品 · work_ieee_1181_1991

IEEE Std 1181-1991 · 内容版

IEEE Std 1181-1991 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Recommended Practice for Latchup Test Methods for CMOS and BiCMOS Integrated-Circuit Process Characterization”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1991 年。