翻訳がないため、中国語の原文を表示しています。

作品 · work_ieee_1620_2004

IEEE Std 1620-2004 · 関係

IEEE Std 1620-2004 是电气电子工程师学会的技术标准,题为“Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials”;公开目录标为已被替代(Superseded),著录年份为 2004 年。

Published by

About

関係

2 件

Mentioned in