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作品 · work_ieee_495_1986

IEEE Std 495-1986

IEEE Std 495-1986 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Guide for Testing Faulted Circuit Indicators”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1986 年。

更新日 · rev 1 · 別名：495-1986 495-1986 - IEEE Guide for Testing Faulted Circuit Indicators

IEEE Std 495-1986（IEEE Guide for Testing Faulted Circuit Indicators）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1986 年，主题领域包括 Power, Energy and Industry Applications[1]。参见IEEE 标准。

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出典

  1. IEEE Std 495-1986 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=495-1986; status=Inactive; modifier=Withdrawn

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01