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작품 · work_ieee_1149_1_2001

IEEE Std 1149.1-2001

IEEE Std 1149.1-2001 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2001 年。

업데이트 · rev 1 · 다른 이름：1149.1-2001 1149.1-2001 - IEEE Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture

IEEE Std 1149.1-2001（IEEE Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为已被替代（Superseded），著录年份为 2001 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。

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출처

  1. IEEE Std 1149.1-2001 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=1149.1-2001; status=Superseded; modifier=

    ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01 ↩