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작품 · work_ieee_1149_10_2017

IEEE Std 1149.10-2017

IEEE Std 1149.10-2017 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for High-Speed Test Access Port and On-Chip Distribution Architecture”；公开目录标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2017 年。

업데이트 · rev 1 · 다른 이름：1149.10-2017 1149.10-2017 - IEEE Standard for High-Speed Test Access Port and On-Chip Distribution Architecture

IEEE Std 1149.10-2017（IEEE Standard for High-Speed Test Access Port and On-Chip Distribution Architecture）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2017 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems、Computing and Processing[1]。参见IEEE 标准。

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출처

  1. IEEE Std 1149.10-2017 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=1149.10-2017; status=Active; modifier=Approved

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01 ↩ ↩