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작품 · work_ieee_517_1974

IEEE Std 517-1974

IEEE Std 517-1974 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Specification Format Guide and Test Procedure for Single-Degree-of-Freedom Rate-Integrating Gyros”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 1974 年。

업데이트 · rev 1 · 다른 이름：517-1974 517-1974 - IEEE Standard Specification Format Guide and Test Procedure for Single-Degree-of-Freedom Rate-Integrating Gyros

IEEE Std 517-1974（IEEE Standard Specification Format Guide and Test Procedure for Single-Degree-of-Freedom Rate-Integrating Gyros）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 1974 年，主题领域包括 Aerospace、Components, Circuits, Devices and Systems、Transportation[1]。参见IEEE 标准。

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출처

  1. IEEE Std 517-1974 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=517-1974; status=Inactive; modifier=Reserved

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01