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작품 · work_ieee_61671_2012

IEEE Std 61671-2012

IEEE Std 61671-2012 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEC 61671:2012(E) (IEEE Std 1671-2010) Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML”；公开目录标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2012 年。

업데이트 · rev 1 · 다른 이름：61671-2012 61671-2012 - IEC 61671:2012(E) (IEEE Std 1671-2010) Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML

IEEE Std 61671-2012（IEC 61671:2012(E) (IEEE Std 1671-2010) Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information via XML）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2012 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems、Power, Energy and Industry Applications、Fields, Waves and Electromagnetics[1]。参见IEEE 标准。

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출처

  1. IEEE Std 61671-2012 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=61671-2012; status=Active; modifier=Approved

    ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01 ↩