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Karya · work_ieee_1149_7_2009

IEEE Std 1149.7-2009

IEEE Std 1149.7-2009 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2010 年。

Dikemas kini · rev 1 · Nama lain：1149.7-2009 1149.7-2009 - IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

IEEE Std 1149.7-2009（IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2010 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。

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Sumber

  1. IEEE Std 1149.7-2009 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=1149.7-2009; status=Inactive; modifier=Reserved

    ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01 ↩