knowledge
Bahasa Melayu

Terjemahan belum tersedia; teks asal bahasa Cina dipaparkan.

Karya · work_ieee_1226_1993

IEEE Std 1226-1993

IEEE Std 1226-1993 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE ABBET(TM) Trial-Use Standard for A Broad-Based Environment for Test (ABBET) Overview and Architecture”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 1993 年。

Dikemas kini · rev 1 · Nama lain：1226-1993 1226-1993 - IEEE ABBET(TM) Trial-Use Standard for A Broad-Based Environment for Test (ABBET) Overview and Architecture

IEEE Std 1226-1993（IEEE ABBET(TM) Trial-Use Standard for A Broad-Based Environment for Test (ABBET) Overview and Architecture）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为已被替代（Superseded），著录年份为 1993 年，主题领域包括 Power, Energy and Industry Applications、Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。

Terokai hubungan

Halaman relasi →

Mentioned in

  • No body mentions yet.

Sumber

  1. IEEE Std 1226-1993 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=1226-1993; status=Superseded; modifier=

    ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01 ↩