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Karya · work_ieee_1696_2013

IEEE Std 1696-2013

IEEE Std 1696-2013 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Circuit Probes”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2014 年。

Dikemas kini · rev 1 · Nama lain：1696-2013 1696-2013 - IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Circuit Probes

IEEE Std 1696-2013（IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Circuit Probes）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2014 年，主题领域包括 Power, Energy and Industry Applications、Fields, Waves and Electromagnetics[1]。参见IEEE 标准。

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Sumber

  1. IEEE Std 1696-2013 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=1696-2013; status=Inactive; modifier=Reserved

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01