IEEE Std 1696-2025（IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Circuit Probes）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2026 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems、Computing and Processing[1]。参见IEEE 标准。
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IEEE Std 1696-2025
IEEE Std 1696-2025 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Circuit Probes”；公开目录标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2026 年。
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Sumber
- IEEE Std 1696-2025 — IEEE Xplore 题录 · IEEE
standard_number=1696-2025; status=Active; modifier=Approved
↩ ↩ - IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01 ↩