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Karya · work_ieee_218_1956

IEEE Std 218-1956

IEEE Std 218-1956 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Methods of Testing Transistors”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1956 年。

Dikemas kini · rev 1 · Nama lain：218-1956 218-1956 - IEEE Standard Methods of Testing Transistors

IEEE Std 218-1956（IEEE Standard Methods of Testing Transistors）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1956 年，主题领域包括 Components, Circuits, Devices and Systems、Engineered Materials, Dielectrics and Plasmas、Fields, Waves and Electromagnetics[1]。参见IEEE 标准。

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Sumber

  1. IEEE Std 218-1956 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=218-1956; status=Inactive; modifier=Withdrawn

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01