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Werken · work_ieee_1671_2006_4035723 · rev 2

IEEE Std 1671-2006

IEEE Std 1671-2006 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information Via XML”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2006 年。

Bijgewerkt · rev 2 · Andere namen：1671-2006 1671-2006 - IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information Via XML

IEEE Std 1671-2006（IEEE Trial-Use Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) for Exchanging Automatic Test Equipment and Test Information Via XML）是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为已被替代（Superseded），著录年份为 2006 年，主题领域包括 Power, Energy and Industry Applications、Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。

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Bronnen

  1. IEEE Std 1671-2006 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=1671-2006; status=Superseded; modifier=

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01