Vertaling ontbreekt; de brontekst wordt getoond. Brontekst: 简体中文

Werken · work_ieee_p1696_d10_june_2013

IEEE Std P1696 D10 June 2013 · Relaties

IEEE Std P1696 D10 June 2013 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Standard for Terminology and Test Methods for Circuit Probes”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2014 年。