Перевод недоступен; показан китайский оригинал.

Произведения · work_ieee_1505_1_2008_7386553

IEEE Std 1505.1-2008 · Версии

IEEE Std 1505.1-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505”；公开目录标为已被替代（Superseded），著录年份为 2013 年。