Перевод недоступен; показан китайский оригинал.

Произведения · work_ieee_300_1988

IEEE Std 300-1988 · Связи

IEEE Std 300-1988 是电气电子工程师学会的技术标准,题为“IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors”;公开目录标为非现行(Inactive),保留(Reserved),著录年份为 1988 年。

Published by

About

Связи

2 записей

Mentioned in