IEEE Std 351-1972 是电气电子工程师学会的技术标准,题为“IEEE Trial Use Standard Guide on Solid State Devices: Varactor Measurements Part II - Characterization of Large-Signal Devices”;公开目录标为非现行(Inactive),已撤回(Withdrawn),著录年份为 1972 年。
Этот сайт использует только cookie, необходимые для входа редакторов. Голосовой помощник предоставляется этим сайтом: он отправляет то, что вы вводите или говорите, в Google Gemini и сохраняет ваш выбор в этом браузере. Включить голосового помощника? Политика конфиденциальности