ยังไม่มีคำแปล กำลังแสดงต้นฉบับภาษาจีน

ผลงาน · work_ieee_1149_7_2009

IEEE Std 1149.7-2009 · เวอร์ชันเนื้อหา

IEEE Std 1149.7-2009 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2010 年。