ยังไม่มีคำแปล กำลังแสดงต้นฉบับภาษาจีน

ผลงาน · work_ieee_1505_1_2008_4689502

IEEE Std 1505.1-2008 · ความสัมพันธ์

IEEE Std 1505.1-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Trial-Use Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505”；公开目录标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2008 年。