ยังไม่มีคำแปล กำลังแสดงต้นฉบับภาษาจีน

ผลงาน · work_ieee_1620_2008_4695965

IEEE Std 1620-2008 · ความสัมพันธ์

IEEE Std 1620-2008 是电气电子工程师学会的技术标准,题为“IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials”;公开目录标为非现行(Inactive),保留(Reserved),著录年份为 2008 年。

Published by

About

ความสัมพันธ์

2 รายการ

Mentioned in