ยังไม่มีคำแปล กำลังแสดงต้นฉบับภาษาจีน

ผลงาน · work_ieee_300_1988

IEEE Std 300-1988 · เวอร์ชันเนื้อหา

IEEE Std 300-1988 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 1988 年。