ยังไม่มีคำแปล กำลังแสดงต้นฉบับภาษาจีน

ผลงาน · work_ieee_61671_6_2016

IEEE Std 61671-6-2016

IEEE Std 61671-6-2016 是电气电子工程师学会的技术标准,题为“IEC/IEEE International Standard - Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description”;公开目录标为现行(Active),已批准(Approved),著录年份为 2016 年。

อัปเดต · rev 1 · ชื่ออื่น:61671-6-2016 61671-6-2016 - IEC/IEEE International Standard - Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description

IEEE Std 61671-6-2016(IEC/IEEE International Standard - Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Test Station Description)是电气电子工程师学会的技术标准。公开目录将其标为现行(Active),已批准(Approved),著录年份为 2016 年,主题领域包括 Computing and Processing[1]。参见IEEE 标准。

อ่านรายการที่เกี่ยวข้อง

หน้าความสัมพันธ์ →

Mentioned in

  • No body mentions yet.

แหล่งที่มา

  1. IEEE Std 61671-6-2016 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=61671-6-2016; status=Active; modifier=Approved

    ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards(KBART) · IEEE · 2026-11-01 ↩