ยังไม่มีคำแปล กำลังแสดงต้นฉบับภาษาจีน

ผลงาน · work_ieee_62526_2007

IEEE Std 62526-2007 · เวอร์ชันเนื้อหา

IEEE Std 62526-2007 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEC 62526 Ed. 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments”；公开目录标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2007 年。