ยังไม่มีคำแปล กำลังแสดงต้นฉบับภาษาจีน

ผลงาน · work_ieee_660_1986

IEEE Std 660-1986 · เวอร์ชันเนื้อหา

IEEE Std 660-1986 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1986 年。