ยังไม่มีคำแปล กำลังแสดงต้นฉบับภาษาจีน

ผลงาน · work_ieee_c62_59_2019

IEEE Std C62.59-2019 · ความสัมพันธ์

IEEE Std C62.59-2019 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Test Methods and Preferred Values for Silicon PN-Junction Clamping Diodes”；公开目录标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2019 年。