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Eserler · work_ieee_1620_2008_4695965

IEEE Std 1620-2008 · Kronoloji

IEEE Std 1620-2008 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials”；公开目录标为非现行（Inactive），保留（Reserved），著录年份为 2008 年。