Çeviri mevcut değil; Çince özgün metin gösteriliyor.

Eserler · work_ieee_256_1963

IEEE Std 256-1963 · İçerik sürümleri

IEEE Std 256-1963 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes”；公开目录标为非现行（Inactive），已撤回（Withdrawn），著录年份为 1963 年。