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作品 · work_ieee_1687_2014_6781532

IEEE Std 1687-2014

IEEE Std 1687-2014 是电气电子工程师学会的草案，题为“IEEE Approved Draft Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device”；公开目录标为非现行（Inactive），著录年份为 2014 年。

更新於 · rev 2 · 別名：1687-2014 1687-2014 - IEEE Approved Draft Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device

IEEE Std 1687-2014（IEEE Approved Draft Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded within a Semiconductor Device）是电气电子工程师学会的草案。公开目录将其标为非现行（Inactive），著录年份为 2014 年，主题领域包括 Power, Energy and Industry Applications、Components, Circuits, Devices and Systems[1]。参见IEEE 标准。

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資料來源

  1. IEEE Std 1687-2014 — IEEE Xplore 题录 · IEEE

    standard_number=1687-2014; status=Inactive; modifier=Draft

    ↩ ↩ ↩
  2. IEEE Xplore All Standards（KBART） · IEEE · 2026-11-01