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作品 · work_ieee_1838_2019

IEEE Std 1838-2019 · 關係

IEEE Std 1838-2019 是电气电子工程师学会的技术标准，题为“IEEE Standard for Test Access Architecture for Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits”；公开目录标为现行（Active），已批准（Approved），著录年份为 2020 年。